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  • D8 Discover
  • 產品廠牌: Bruker
    產品簡述: X光单晶绕射仪量测单晶样品厚度、 晶格常数、结构组成成分分析以及密度

    原厂国家: 德国
    制程应用:
       应用于化合物半导体薄膜的量测,量测项目包含厚度,成分及晶体之结晶度,主要应用为LED磊晶层之量测。
    相关连结:  http://www.bruker.com/

製程說明
1.   X光单晶绕射仪为非破坏性检测仪器。
2.  模块化设计,可提供功能升级的最大可能性。
3.  量测单晶样品厚度、晶格常数、结构组成成分分析、密度等。
4.  Multi-wafer : 2”*12 & 4”*4。
5.  市面上唯一将样品水平放置并搭配高精度测角仪进行量测,节省量测时间以及降低样品掉落风险。
6.  可在同一Detector上,同时拥有两种量测模式(1)高强度(2)高分辨率,仅以软件上操作即可。
7.  具有4种以上内建软件算法。