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  • 產品廠牌: Freiberg Instrument
    產品簡述: 量測矽晶圓、磊晶層、全製程 或半製程的半導體元件以及 化合物半導體的少數載子生命週期、 阻抗及薄膜厚度

    原廠國家:   德國
    製程應用:
     
    1. 少數載流子壽命,光電導,電阻率和平整度的樣品同時測量,所有映像在同一時間。
    2. 非接觸式破壞自由電半導體特性
    3. 少數載流子壽命映射能力
    4. 到目前為止隱形缺陷先進的可視化的敏感性
    5. 自動切割的標准定義
    6. 對於散裝屬性提取穩態測量
    7. 完全自動化的內聯­一體化
    8. 太陽能級矽的二維磚映射系統,一毫米的分辨率,測量時間:每個磚面小於1分鐘的一磚,所有4個面自動測量

    相關連結:  http://www.freiberginstruments.de/
    關鍵字    :  太陽能,量測

製程說明
量測太陽能單/多晶磚、矽晶圓片的少數載子壽命
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