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  • SE400 PV
  • 產品廠牌: Sentech
    產品簡述: 量測各種薄膜的厚度、折射率以及消光系數
    原廠國家:   德國
    製程應用:
       橢圓儀及反射儀可使用於任何薄膜之厚度,折射率及消光係數之量測
    相關連結:  http://www.sentech.de/
    關鍵字    :
      太陽能,量測


製程說明
1.Ellipsometer (橢圓儀)及Reflectometer (反射儀)為非破壞性檢測之儀器
2.量測粗糙表面光學薄膜厚度及n值;如抗反射層等
3.提供高精確度、穩定度以及再現性的量測結果
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