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  • SE800 PV
  • 產品廠牌: Sentech
    產品簡述: 量測各種薄膜的厚度、折射率以及消光系數
    原廠國家:   德國
    製程應用:
       橢圓儀及反射儀可使用於任何粗糙表面的光學薄膜之厚度,折射率及消光係數之量測
    相關連結:   http://www.sentech.de/
    關鍵字    :  
    太陽能,量測


製程說明
1.全光譜式橢圓儀
2.可於粗糙化過的晶圓(textured wafer)上量測雙層抗反層
3.在粗糙表面基板上可做快速及高靈敏的橢圓參數分析
4.具有高穩定度延相器以利分析
5.步階掃瞄式分析器 ,可做高精確的樣品分析 
 
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