原厂国家： 德国 制程应用： RM1000和RM 2000测量与光滑或粗糙的表面平面或曲面样品。厚度，消光系数，和单膜或层堆栈的折射率使用SENTECH FTPadv Expert软件计算的。 5nm和50nm厚，层堆之间单膜和基材能在UV-VIS-NIR光谱范围内进行分析。 相关连结： http://www.sentech.de/ 关键字 ： 光谱反射仪
SENTECH ' Reflectometer RM能够在UV-VIS-NIR光谱范围对单层膜、多层膜和基底材料进行高精度反射光谱测量。 可对吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析厚度和折射率
