SE400


  • BRAND: Sentech
  • DESCRIPTION: 量測各種光學薄膜的厚度、折射率以及消光系數
  • 原廠國家:   德國
    製程應用: 
    橢圓儀及反射儀可使用於任何薄膜之厚度,折射率及消光係數之量測
    相關連結:  http://www.sentech.de/
    關鍵字    :
      橢圓儀

1.Ellipsometer (橢圓儀)及Reflectometer (反射儀)為非破壞性檢測之儀器
2.量測各種光學材料薄膜的厚度以及n、k值
3.提供高精確度、穩定度以及再現性的量測結果