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  • SE400
  • 產品廠牌: Sentech
    產品簡述: 量測各種光學薄膜的厚度、折射率以及消光系數
    原廠國家:   德國
    製程應用: 
    橢圓儀及反射儀可使用於任何薄膜之厚度,折射率及消光係數之量測
    相關連結:  http://www.sentech.de/
    關鍵字    :
      橢圓儀
製程說明
1.Ellipsometer (橢圓儀)及Reflectometer (反射儀)為非破壞性檢測之儀器
2.量測各種光學材料薄膜的厚度以及n、k值
3.提供高精確度、穩定度以及再現性的量測結果
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