原厂国家： 德国 制程应用： 椭圆仪及反射仪可使用于任何薄膜之厚度,折射率及消光系数之量测 相关连结： http://www.sentech.de/ 关键字 ： 椭圆仪
1.Ellipsometer (橢圓儀)及Reflectometer (反射儀)為非破壞性檢測之儀器 2.量測各種光學材料薄膜的厚度以及n、k值 3.提供高精確度、穩定度以及再現性的量測結果
