原廠國家： 德國 製程應用： RM1000和RM 2000測量與光滑或粗糙的表面平面或曲面樣品。厚度，消光係數，和單膜或層堆疊的折射率使用SENTECH FTPadv Expert軟體計算的。 5nm和50nm厚，層堆之間單膜和基材能在UV-VIS-NIR光譜範圍內進行分析。 相關連結： http://www.sentech.de/ 關鍵字 ： 橢圓儀
SENTECH ' Reflectometer RM能夠在UV-VIS-NIR光譜範圍對單層膜、多層膜和基底材料進行高精度反射光譜測量。 可對吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析厚度和折射率
