原廠國家： 德國 製程應用： 半導體 相關連結： http://www.pva-analyticalsystems.com/en/products/sam-line/pva/sam-line/sam-300 關鍵字：超音波量測機
1.在F/A中的非破壞性方法的量測 - 2.量測缺陷查出原因 3.對裂縫和分層具高零敏度
