原廠國家: 德國 製程應用: 適用於各種不同薄膜量測: 研發 / 光伏 / 微電子 / 有機電 子 / 玻璃塗料 / 顯示技術 / 生物科學 / 生命科學 相關連結: http://www.sentech.de/ 關鍵字 : 橢圓儀、橢偏儀
SENresearch4.0是SENTECH最新的光譜橢偏儀產品。可依據各別客戶需求制定光譜範圍,亦可於日後現場升級配件。 - 最寬的光譜範圍和最高的光譜分辨率(光譜範圍從190nm(深UV)為3500nm(NIR)) - 搭配SSA元件(步進掃描分析儀), 沒有可移動之料件 - 創新的2C設計:全穆勒矩陣 - 搭配功能最完整的軟體SpectraRay/4(包含:先進的材料分析 / 雙重操作介面:材料研究用之圖型分析模式與例行常規簡易量測介面。)