Products

  • SENresearch 4.0
  • 產品廠牌: Sentech
    產品簡述: 全光谱式椭圆仪适用于单层或多层之不同材料结构的薄膜量测. 量测各种光学薄膜的厚度、折射率以及消光系数等
    原厂国家: 德国
    制程应用:
    适用于各种不同薄膜量测: 研发 / 光伏 / 微电子 / 有机电子 / 玻璃涂料 / 显示技术 / 生物科学 / 生命科学
    相关连结:  http://www.sentech.de/
    关键字  :   椭圆仪、椭偏仪

製程說明
SENresearch4.0是SENTECH最新的光谱椭偏仪产品。可依据各别客户需求制定光谱范围,亦可于日后现场升级配件。
  - 最宽的光谱范围和最高的光谱分辨率(光谱范围从190nm(深UV)为3500nm(NIR))
  - 搭配SSA组件(步进扫描分析仪), 没有可移动之料件
  - 创新的2C设计:全穆勒矩阵
  - 搭配功能最完整的软件SpectraRay/4(包含:先进的材料分析 / 双重操作接口:材料研究用之图型分析模式与例行常规简易量测接口。)