原廠國家: 日本 製程應用: IC先進封裝 相關連結: https://www.takano-net.co.jp/portal/en/ 關鍵字: 封裝段的異物刮傷裂痕等外觀不良檢查
搭載4M高解度灰階或彩色高速檢查系統